私たちの生活の中にかつてないほど電子機器が浸透してきています。その多くはコンピューターなどのような制御システムが組み込まれたものです。従来で考えられないような機器にまで、小型コンピューターが組み込まれるようになってきました。そのようなことにより、様々なものがインテリジェント化して複雑な工程をこなせるようになってきています。

身近にある電子レンジなど向いても、昔は加熱時間とワット数を切り替えるというような単純なものだったのですが、現在では料理の種類を入力することにより自動的に加熱時間や出力を調整するようなもの作られるようになってきました。このように様々なもののインテリジェント化が進んだ背景には、半導体の大規模な集積化があります。少し前までは大変大きなスペースを取っていたような制御機器が、半導体集積回路を用いることによって大変小さなものにすることが可能になってきました。このような事から、数々の製品に半導体が組み込まれるようなことが行われるようになってきたわけです。

このように高度に集積化が進んだ半導体回路の検査ためには、オリジナルソケットと検査器具を用いた動作チェックが用いられます。従来のように一つの部品の性能を調べることはできませんので、オリジナルソケットを集積回路に装着することにより動作チェックを行うという手法がとられるようになってきました。このオリジナルソケットを使った動作チェックの方法を用いることにより、他の部分には影響を与えずに検査が可能になります。